晶圆检测系统和方法
本申请涉及一种晶圆检测系统和方法。包括:光源模块用于输出连续的泵浦光;转换模块包括非线性晶体,转换模块用于通过非线性晶体将泵浦光转换为闲频光和信号光;闲频光为中红外光,用于照射待测晶圆;反射模块用于反射信号光和泵浦光,以进入转换模块;转换模块还用于通过非线性晶体将反射的泵浦光转换为新的信号光,新的信号光与发射的信号光发生信号干涉;探测器用于在探测到干涉信号的情况下,将干涉信号转换为探测数据;工控机与光源模块、运动台和探测器电连接,用于控制光源模块输出连续的泵浦光,控制运动台运动,并根据探测数据,确定待测晶圆的晶圆检测结果。具有高分辨率、低成本的特点,满足半导体先进制程需求。