北京君正集成电路股份有限公司

本发明提供一种用卷积实现upsample的方法，包括：S1，输入数据位宽扩展：将输入数据的比特位宽增加为原来的两倍，同时保持输入输出通道数不变；S2，权重和偏置设计：设计合适的权重和偏置以实现宽度上步长为2的上采样；包括近邻权重和偏置设计、填充数据权重和偏置设计，分别对应近邻上采样进行S3和填充固定数据进行S4；S3，近邻上采样：通过近邻上采样方法，通过DMA操作将数据从ORAM搬移到DDR中两次，分别保存到相邻的两行中，以实现高度的步长为2；S4，填充固定数据：通过填充固定数据的方法，填充数据的所有行，采用特殊的权重计算对应具体的偏置，将生成结果存放到所有的填充数据行，从而实现上采样步长为2的上采样。

本发明提供一种基于脚本的MCU寄存器测试自动化方法及其系统，通过自动化测试方法及其系统，提高MCU芯片寄存器测试效率；把原来需要工程师几天时间的测试工作，变为自动化完成的过程；结果自动化比较，不需要人为检查，不仅节省时间，还降低出错可能。本方法及其系统涉及MCU测试领域，尤其涉及一种使用脚本加快寄存器测试的方法及其系统。