原始名称记载: 深圳市江波龙电子股份有限公司

本申请涉及测试领域，提供一种测试装置，包括测试主板、数据通信模块、测试控制模块、硬件控制模块以及环境温度控制模块；测试主板用于对插接于其上的多个存储设备进行测试；测试主板用于在执行测试过程中获取每个存储设备的运行温度；测试控制模块用于通过数据通信模块从测试主板获取每个存储设备的元件运行温度并传输给硬件控制模块；环境温度控制模块用于在执行加热操作时对测试环境进行升温，并将感测到的测试环境温度传输给硬件控制模块；硬件控制模块用于根据元件运行温度执行温度精细控制，并根据测试环境温度执行温度粗略控制。

本申请公开了存储设备的测试方法、测试装置、计算机可读存储介质。应用于测试装置，测试装置与存储设备通信连接，用于对存储设备进行测试，方法包括：根据预置编码规则对待写入数据进行压缩编码，得到第一基准编码数据；将第一基准编码数据存储至测试装置的存储器中，并将待写入数据写入存储设备中；从存储设备中按照待写入数据对应的地址进行数据读取，得到目标数据，并根据预置编码规则对目标数据进行压缩编码，得到第二基准编码数据；比较第一基准编码数据和第二基准编码数据，根据比较结果确定存储设备的测试结果。通过上述方式，能够减少对测试装置的存储器的空间占用。