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本申请公开用于测试计算设备部件的芯片仿真设备、系统和方法。本公开涉及用于测试计算设备的硬件仿真，并且更具体地，涉及芯片仿真设备，其被设计用于在生产实际芯片之前仿真集成电路（IC）芯片，用于测试目标计算设备的印刷电路板（PCB）和相关联的部件。所要求保护的发明代表了用于测试计算设备部件的芯片仿真设备以及系统和方法，其通过跨热、电和机械领域同时准确仿真集成电路行为，来提供硬件测试和验证的技术领域的改善，从而提供提高的测试效率和准确性。所建议的发明提供在电子行业中简化开发过程，缩短上市时间，并且改善总体产品质量和可靠性。