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一种用于半导体工艺尾气的监测处理方法及系统

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§ Ⅰ

卷宗概要

IPC 分类

G01N 33/00 (2006.01)F23G 7/06 (2006.01)G05D 27/02 (2006.01)

本发明公开了一种用于半导体工艺尾气的监测处理方法及系统。该方法通过接收半导体制造设备的工艺配方信息,基于预存的工艺与尾气关联模型预测尾气的浓度和流量,并据此对混合腔和预备腔的尾气存量进行规划;在预测到高浓度尾气时,控制预备腔向混合腔注入低浓度尾气以形成缓冲底料。通过实时监测尾气工况数据,根据浓度参数进行智能分流:浓度正常时导入燃烧腔,浓度过低时导入预备腔暂存,浓度过高时导入已含缓冲底料的混合腔。随后动态判断混合腔浓度,并补充低浓度尾气直至浓度达标后导入燃烧腔,本发明实现了尾气处理的前瞻预测与动态闭环控制,有效缓冲浓度冲击,提升处理效率与系统安全性。