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기록

一种掩模器件及其制备工艺

발명유효
14청구항 · 2 독립항
§ Ⅰ

개요

출원인

北京集成电路装备创新中心有限公司

발명자

王建宗; 林源为; 李华征; 张月

IPC 분류

G03F 1/22 (2012.01)

本发明提供一种掩模器件及其制备工艺,涉及半导体技术领域。该掩模器件包括自下而上依次堆叠的衬底、光介质层、粘结层和Cr膜层,Cr膜层包括光栅区和阻挡区,光栅区的厚度小于阻挡区的厚度,且光栅区形成有光栅结构;衬底设有供光栅结构向下透光的通光口。该掩模器件通过采用Cr膜层作为其光栅层,并设置Cr膜层中阻挡区的厚度大于光栅区的厚度,在确保光栅区形成光栅结构的有效高度,使得X射线经光栅结构具有较佳的干涉效果并形成目标曝光图形的基础上,有效提高阻挡区对X射线的反射和吸收,从而减少X射线穿过阻挡区形成的散射光对曝光图形的影响,相应确保X射线经过掩模器件时的有效干涉,得到高精确度的曝光图形。