用于Nord结构闪存产品的坏块替换方法及装置、电子设备

本申请涉及存储器技术领域，公开了一种用于Nord结构闪存产品的坏块替换方法及装置、电子设备。方法包括：识别闪存产品的坏块区，并确定坏块区的坏块类型；在坏块区的坏块类型为第一设定类型的情况下，确定坏块区的目标地址信息；其中，目标地址信息包括相邻的第一坏块地址和第二坏块地址；从闪存产品的冗余区中确定相邻的第一冗余地址和第二冗余地址；将第一坏块地址和第二坏块地址共同作为新的第一坏块地址进行读写操作，将第一冗余地址和第二冗余地址共同作为新的第二坏块地址进行读写操作。本申请在冗余块区的性能无法达到所需的性能标准时，也可以实现坏块区的替换，提高了闪存产品的良品率。