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硅基板芯片的封装参数确定方法、装置、设备、介质和程序
发明专利有效
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§ Ⅰ
卷宗概要
发明人
胡杨; 刘静遥; 韩慧明; 尹首一
IPC 分类
G06F 30/20 (2020.01)H10P 74/00 (2026.01)
本申请涉及一种硅基板芯片的封装参数确定方法、装置、计算机设备、计算机可读存储介质和计算机程序产品。所述方法包括:根据芯片的目标电压域的第一过流参数和硅通孔的第二过流参数,确定目标电压域对应的硅通孔数量,根据芯片的目标焊料凸点的第三过流参数、第二过流参数和硅通孔数量,确定目标电压域对应的焊料凸点数量,根据芯片的电源传输网络的电源属性参数和焊料凸点数量,确定目标焊料凸点对应的节距,根据硅通孔数量、焊料凸点数量和节距,确定芯片的封装参数。采用本方法能够提升芯片的封装效果。