一种环形器插损的二次响应面优化方法

本发明公开了一种环形器插损的二次响应面优化方法。涉及微波无源器件技术领域。方法包括：获取环形器的目标性能，根据目标性能确定环形器的可调因子集合；采用实验设计法在可调因子集合中筛选显著因子；根据显著因子构建二次响应面代理模型，以插入损耗最小化为优化目标训练模型；利用训练好的模型执行带约束的多目标寻优，得到最优参数组合；对最优参数组合进行验证后输出为最终设计参数。本发明通过筛选显著因子并构建二次响应面代理模型，以IL最小化为目标在约束空间内实现快速寻优，实验总量减少百分之七十，验证误差低于百分之五，显著缩短设计周期并降低插耗，适用于任意波段自偏置环形器低损耗工艺窗口的精准确定。