分析物的检测方法、系统、介质及设备

本发明提供了一种分析物的检测方法、系统、介质及设备，属于光学分析领域，所述方法包括：成像步骤：通过预设波长范围内的光线照射第一区域并对所述第一区域进行成像，得到成像区域的图像；光谱获取步骤：从所述图像获取反映分析物受到光线照射而产生的反射信号或者激发信号在成像区域中不均匀分布的光谱数据；分析步骤：根据获取的光谱数据得到成像区域中分析物的信息，所述分析物的信息包括分析物与光谱数据关联的信息。本申请利用分析物在成像区域分布不均匀的特性，得到不同区域的光谱数据，由于成像区域中除了分析物以外其他成分的分布较为均匀，不同区域的光谱数据差异可以直接反映排除了非分析物影响后的分析物与光谱数据关联的信息。