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一种基于缺口短裂纹效应的结构超高周疲劳寿命预测方法
发明专利有效
6权利要求 · 1 独立
§ Ⅰ
卷宗概要
发明人
朱明亮; 陈蓉; 尧全恒; 刘雨欣; 李小龙; 轩福贞
IPC 分类
G01N 19/00 (2006.01)G01N 23/046 (2018.01)G01N 23/18 (2018.01)
本发明涉及工程结构疲劳寿命预测的技术领域,提供一种基于缺口短裂纹效应的结构超高周疲劳寿命预测方法,包括:在真空环境中开展含缺口试样的原位疲劳试验,跟踪记录加载周期及其对应的裂纹长度,并绘制裂纹扩展速率随加载周期变化的裂纹扩展速率曲线;使用工业CT扫描含缺陷的超高周疲劳试样,获取试样内部缺陷的尺寸和位置信息;根据疲劳裂纹扩展门槛值确定超高周疲劳裂纹萌生特征区的临界尺寸;根据获得的真空环境下缺口的裂纹扩展速率,预测含缺陷疲劳试样的内部裂纹扩展速率;分别对裂纹在萌生区以内和以外的扩展速率进行积分得到超高周疲劳萌生寿命和扩展寿命,累加得到含缺陷试样的超高周疲劳全周期寿命。