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连续检测待测物多种瑕疵的方法与检测系统

发明专利有效
10权利要求 · 2 独立
§ Ⅰ

卷宗概要

发明人

沈威政; 林志伟; 刘丞伟; 廖珗洲

IPC 分类

G01N 21/88 (2006.01)G01N 21/01 (2006.01)B07C 5/36 (2006.01)B07C 5/34 (2006.01)

一种连续检测待测物多种瑕疵的方法与检测系统,在方法中,经入料设备前预置待测物后,以输送带运输模块搬运待测物至一检测位置,通过外观检测设备运用机械手臂模块带动图像获取模块与光源拍摄待测物,生成多角度检测图像,再以自动光学检测技术根据多角度检测图像进行多次图像识别以更新检测数据后,生成检测结果,可以由此进行多次比对样品后判断待测物的瑕疵类型与程度,再通过良品与不良品分类模块根据检测结果分类各待测物为良品与不良品,最后以出料设备将分类完成的待测物进行后预置。