批量运行目标测试用例的方法、电子设备和介质

本发明涉及芯片技术领域，尤其涉及一种批量运行目标测试用例的方法、电子设备和介质，方法包括：步骤S1、获取用户A对应的并行度B并将B划分为第一并行度B和第二并行度B；步骤S2、获取用户A对应的目标测试用例列表L，L={C,C,...,C,...,C}，C=（C1,C2,C3）；步骤S3、按序对每一C执行：判断A当前对应的可用第一并行度数量是否大于等于C3，若大于，则为C分配C3个计算资源单元，基于C1和C2执行C，直至执行完所有C。本发明减少了批量运行目标测试用例过程中计算资源的堵塞，提高了芯片验证效率。