基于改进图像分割模型的光通信芯片缺陷检测方法及系统

本发明涉及一种基于改进图像分割模型的光通信芯片缺陷检测方法及系统，其方法包括：依据局部移植与物理合理性约束的数据增强策略，对光通信芯片缺陷图像进行缺陷特征强化，获得缺陷图像训练集；对语义分割模型进行改进：在解码器中构建包含可分离卷积层与多尺度空洞卷积特征提取模块的双流异构金字塔网络，并在多尺度空洞卷积特征提取模块的输出端嵌入通道与空间注意力模块；依据缺陷图像训练集和动态空间感知复合损失函数，对改进图像分割模型进行训练；将待检测的芯片图像输入经训练的改进图像分割模型中进行前向推理，并对获得的分割概率图进行二值化阈值处理，得到光通信芯片缺陷检测结果。本发明提高了光通信芯片中微小缺陷的检测精度。