基于量子点涂层CMOS传感器的多光谱检测方法、系统及介质

本申请提供了一种基于量子点涂层CMOS传感器的多光谱检测方法、系统及介质，该方法包括：采集多光谱原始图像，将多光谱原始图像进行光谱归一化处理，得到归一化处理图像；将归一化处理图像进行像素几何配准，得到配准图像；基于配准图像提取光谱特征，对光谱特征进行主成分与波段分析，基于分析结果对配准图像进行融合处理，得到融合图像；构建材料识别与污染分析模型，将融合图像输入材料识别与污染分析模型，输出检测结果，将检测结果实时传输至终端；本申请能够实现单次曝光获取紫外‑可见‑红外宽波段的反射与吸收图像信息，并通过图像融合算法获取材料的成分与形貌信息，对材料残留、金属扩散、污染物等实现识别和定量分析。