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形成半导体器件的方法、以及半导体结构
发明专利有效
10权利要求 · 3 独立
§ Ⅰ
卷宗概要
发明人
林孟佑; 黄平; 郑存甫
IPC 分类
H10D 84/01 (2025.01)H10D 84/85 (2025.01)
一种方法包括形成互补场效应晶体管,包括形成下源极/漏极区域,以及在下源极/漏极区域上方形成上源极/漏极区域。执行蚀刻工艺以蚀刻穿过上源极/漏极区域并形成接触开口。蚀刻工艺停止于下源极/漏极区域的顶面上。该方法还包括:在接触开口中形成介电接触间隔件;在下源极/漏极区域上方形成第一硅化物层;在第一硅化物层上方形成与之接触的接触塞;以及在下源极/漏极区域的底面下方形成与之接触的第二硅化物层。本申请的实施例涉及一种形成半导体器件的方法、以及半导体结构。