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一种变距测试系统及方法
发明专利有效
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§ Ⅰ
卷宗概要
发明人
向宇辉; 葛瑞; 万发; 蒋玉斌; 覃皓江; 王肖肖
IPC 分类
B65G 47/26 (2006.01)B65G 47/91 (2006.01)B65G 43/08 (2006.01)
本发明提供了一种变距测试系统及方法,其包括:传输机构,其包括水平传输组件及升降缓存组件,水平传输组件包括水平传输带及载盘,升降缓存组件设置于水平传输带的端部;变距过渡机构,其包括固定支架及承载台;移料机构,其设置于传输机构与变距过渡机构之间;测试机构,其内部设有多个固定测试位点;转运机构,其包括转运模组及转运组件,转运组件连接于转运模组,其包括多个转运吸嘴,多个转运吸嘴之间的间距与固定测试位点间距相同。本发明能够克服检测过程中由于机构工位匹配性不足,影响测试效率的问题,相比于常规测试技术来说,本申请兼具可控性强、适用场景广泛、兼容性强、自动化程度高等优势,显著提升了元器件的测试效率及质量。