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一种用于铜检测的微阵列传感器方法及装置
发明专利有效
10权利要求 · 2 独立
§ Ⅰ
卷宗概要
发明人
王维金; 裴兵; 危亮; 刘柳; 张雷
IPC 分类
G01N 27/30 (2006.01)G01N 27/38 (2006.01)G01N 27/48 (2006.01)
本发明公开了一种用于铜检测的微阵列传感器方法及装置,涉及微量元素检测领域,用于铜检测的微阵列传感器方法包括:试剂包括修饰液、清洗液A和清洗液B,对工作电极依次经抛光处理、纯水冲洗、硫酸溶液活化处理及电极性能验证,将三电极体系置于修饰液中,对工作电极进行修饰,以在工作电极表面形成均匀的单宁酸修饰层;依次将三电极体系置于清洗液A、清洗液B中,通过循环伏安法进行清洗,以去除三电极体系表面残留的未结合修饰物质及杂质;对不同浓度梯度的样本进行检测,通过上述方法可以解决在复杂样本中快速、高灵敏且抗干扰地检测痕量铜离子的技术难题。