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用于测试半导体样品的自动化系统和自动化方法
发明专利有效
20权利要求 · 2 独立
§ Ⅰ
卷宗概要
发明人
韩大雄; 金嘉姬; 金廷勋; 李埈炯
IPC 分类
G01N 35/00 (2006.01)
提供了用于测试半导体样品的自动化系统和自动化方法。该自动化系统可以包括:保持器,被配置为保持半导体样品;容器,被配置为保持试剂;夹持器,被配置为夹持该保持器;机器人,包括末端执行器,末端执行器被配置为在夹持模式和释放模式之间操纵夹持器;以及测试装置,被配置为测试半导体样品并且包括:装载区域,在该处装载容器和保持器;处理区域,在该处使用末端执行器将保持器浸入到容器内的试剂中,并且旋转保持器以化学处理半导体样品;清洗区域,在该处使用连接到末端执行器的夹持器清洗保持器和半导体样品;以及干燥区域,在该处使用连接到末端执行器的夹持器干燥保持器和半导体样品。