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用于高电压测试待测装置的测试系统及测试方法

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§ Ⅰ

卷宗概要

IPC 分类

G01R 31/00 (2006.01)G01R 1/067 (2006.01)G01L 5/00 (2006.01)G01F 1/00 (2022.01)

本发明涉及一种用于高电压测试待测装置的测试系统及测试方法,提供气体监控装置及控制单元,以具备压力与流量同步监控功能的高电压测试用探针卡系统,于气体进入探针卡总成的气体空间之前,即配置压力及流量传感器,且搭配所述气体监控装置与所述控制单元,建构完整而封闭式的控制机制。