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一种光电检测设备精度评估方法、系统及存储介质

发明专利有效
10权利要求 · 3 独立
§ Ⅰ

卷宗概要

发明人

王之越; 刘文齐; 邵云峰; 曹桂平; 董宁

IPC 分类

G01J 1/02 (2006.01)

本发明公开了一种光电检测设备精度评估方法、系统及存储介质,该方法,包括:逐像素点亮标定屏幕各像素点,以逐像素获取标准光电检测设备对准基准区域的当前测量值;计算当前测量值与前一测量值的差分结果用于定位边界像素点,以获取标准光电检测设备在边界像素点内部的有效采样区域与基准区域的位置关系;获取待测光电检测设备采集的参考屏幕图像,以通过基准区域在所述参考屏幕图像上定位与有效采样区域对应的测量区域;本发明中,通过极易操作的方式实现亚毫米级的对齐精度,同时配合算法帮助在成像色度计获得的图像中定位参考仪器的测量位置,大幅缩短参考仪器测量和待测仪器测量之间的时间间隔,明显提高测量精度。