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单光子探测器探测效率测试装置及方法
发明专利有效
12权利要求 · 2 独立
§ Ⅰ
卷宗概要
发明人
徐可米; 陈沿州; 彭礼超; 张渝松; 郭军权
IPC 分类
G01J 1/42 (2006.01)G01J 1/04 (2006.01)G01J 11/00 (2006.01)
本申请提供了一种单光子探测器探测效率测试装置及方法,可以应用于光子测量技术领域。该装置包括:脉冲激光源、低温制冷腔体、参考探测器、待测单光子探测器和光束聚焦组件;脉冲激光源产生周期性激光脉冲;低温制冷腔体侧壁设有光学窗口片,与激光源出射端相对,内部设有两个冷盘及旋转平台;参考探测器与待测单光子探测器分别安装于两个冷盘上;光束聚焦组件包括第一离轴抛物面反射镜、反射镜和第二离轴抛物面反射镜;第一离轴抛物面反射镜焦点与激光源出射端共点,反射镜接收其反射光;第二离轴抛物面反射镜固定于旋转平台,接收反射镜的反射光;旋转平台通过旋转使第二离轴抛物面反射镜的反射光路分别聚焦于参考探测器或待测单光子探测器。