面向电子器件的强化测试参数响应方法及系统

本发明公开了面向电子器件的强化测试参数响应方法及系统，涉及电子器件测试技术领域，该方法包括：基于待测试电子器件的基本属性特征参数，获取基本测试方案序列；获取测试项重要性序列，基于测试项重要性序列，获取校正测试方案；获取校正测试方案中多个测试项对的干扰性系数，迭代优化校正测试方案中的测试项顺序，获取优化测试方案；基于优化测试方案，进行电子器件的强化测试。本发明解决了现有技术中存在的电子器件测试中测试方案针对性不足导致测试结果不准确的技术问题。