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基于同步参考干涉仪的双边带FSI测距系统及方法

发明专利有效
10权利要求 · 2 独立
§ Ⅰ

卷宗概要

发明人

李小平; 张树威; 崔航; 李琮玉; 刘彦明; 孙海峰; 邓忠文; 沈利荣

IPC 分类

G01S 17/08 (2006.01)

本发明公开了一种基于同步参考干涉仪的双边带FSI测距系统及方法,主要解决现有双边带FSI测距技术缺乏扫频参考基准、较大扫频非线性误差的问题。方案包括:1)通过MZM产生双边带扫频光信号;2)建立测量干涉仪和参考干涉仪波分复用光路;3)复用测量光与参考光混频干涉,采集正交干涉信号;4)基于Ap‑FFT算法识别并解算两干涉仪对应相位差;5)根据同步参考干涉仪非线性误差校正原理,将测量干涉仪的测距精度溯源到参考干涉仪长度上,计算目标绝对距离。本发明可用于大量程下的双边带FSI绝对距离测量中,免疫扫频非线性误差,且能够极大地降低系统和计算复杂度,便于小型化应用。