AC参数验证方法、装置、电子设备及存储介质

本申请提供一种AC参数验证方法、装置、电子设备及存储介质，AC参数验证方法包括：获取包括SPI接口的芯片第一引脚的第一延时参数以及第二引脚的第二延时参数，根据第一延时参数和第二延时参数对芯片与测试机的通信过程进行仿真，根据仿真结果调整第一延时参数中的板级延时，得到芯片与测试机正常通信的极限板级延时，对极限板级延时对应的AC参数进行验证，从而可以在芯片设计阶段对AC参数进行验证并及时修改芯片的设计文件，降低在得到样片后AC参数不满足设计规范的概率，进而降低了在得到样片后再对芯片进行修改的成本和风险。