一种面向少样本场景的工业产品表面缺陷图像分析方法

本发明涉及图像数据处理技术领域，公开了一种面向少样本场景的工业产品表面缺陷图像分析方法，包括：获取待分析产品的表面灰度图像数据，计算结构张量矩阵并生成各向异性度图；在预设搜索邻域内搜索相似图块，构建局部纹理数据矩阵；对局部纹理数据矩阵执行奇异值分解以提取主子空间；构建投影算子并利用其对局部图块进行正交投影重构，生成重构背景图块；将重构背景图块拼接为全幅重构背景图像，计算灰度差异图并执行自适应阈值分割以提取缺陷特征，本发明通过正交子空间投影机制，分离良品纹理与缺陷信号，在去除随机噪声的同时完整保留高频结构特征，提升少样本场景下复杂纹理表面的缺陷检测精度。