返回搜索
档案
一种基于交叉注意力残差机制的空间目标材质识别方法
发明专利有效
1浏览
8权利要求 · 1 独立
§ Ⅰ
卷宗概要
发明人
周文勃; 曹姝清; 韩飞; 孙宇涛; 李天琪; 牟金震
IPC 分类
G06V 10/764 (2022.01)G06V 10/82 (2022.01)G06V 10/80 (2022.01)G06V 10/774 (2022.01)G06V 10/58 (2022.01)G06V 10/52 (2022.01)G06V 10/75 (2022.01)G06V 10/44 (2022.01)
一种基于交叉注意力残差机制的空间目标材质识别方法步骤为:首先,构建数据集,并搭建基于交叉注意力残差机制的空间目标材质识别模型;之后,将数据集输入到材质识别模型中,模型中的自适应MTF滤波模块进行图像修正,得到修正特征图和浅层特征图;空间‑光谱特征联合提取模块对修正特征图进行处理,输出深层特征图;基于交叉注意力的多尺度特征融合模块进行特征融合,得到融合特征图;基于融合特征图和损失函数进行模型训练;训练完成后,将待检测图像输入到模型中,模型输出空间目标的材质信息。该方法通过上述三个模块有效应对了图像的退化效应,实现了光谱特征和空间结构特征的融合,保证了目标形变或光照条件变化时的识别准确率。