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分布式系统的架构缺陷识别方法、设备及存储介质

发明专利有效
10权利要求 · 3 独立
§ Ⅰ

卷宗概要

IPC 分类

H04L 41/06 (2022.01)H04L 41/14 (2022.01)

本申请提供一种分布式系统的架构缺陷识别方法、设备及存储介质,包括:获取对于分布式系统中的目标应用的访问请求;确定访问请求的调用链路全景图,其中,调用链路全景图中包括多个应用之间的调用关系链路,多个应用中包括目标应用;利用调用链路全景图,确定目标应用的域能力数值;基于域能力数值,确定分布式系统是否存在架构缺陷。本申请实施例利用对于分布式系统中的目标应用的访问请求,生成访问请求的调用链路全景图,确定目标应用的域能力数值,从而实现分布式系统的架构缺陷识别,使得分布式系统中架构不合理的地方的识别更加方便。