光检测装置和测距系统

本公开涉及可以实现击穿电压的正偏置化的光检测装置和测距系统。P型区域设置在SPAD像素的中心部分中，并且连接至输出与入射到SPAD像素上的光子的检测相对应的检测信号的电极。N+扩散层设置在SPAD像素的周边部分中，并且连接至提供正偏置的第一击穿电压的电极。透明电极隔着绝缘膜堆叠在SPAD像素的光入射面和侧面上，并且正偏置的第二击穿电压被提供。本技术可以应用于例如通过光检测装置获取距离图像的测距系统，在光检测装置中，多个SPAD像素以阵列状排列。