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样本检测设备、样本检测方法
发明专利未知
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§ Ⅰ
卷宗概要
IPC 分类
G01N 33/49 (2006.01)G01N 33/50 (2006.01)G01N 33/80 (2006.01)G01N 33/72 (2006.01)G01N 33/68 (2006.01)
本申请公开了样本检测设备、样本检测方法,该样本检测设备的进样组件用于获取待测样本;检测组件用于在至少两个检测模式下对待测样本进行检测;处理器用于在检测组件通过同一检测模式进行检测时,对同一检测模式的检测时序进行叠加;处理器还用于在检测组件通过不同检测模式进行检测时对不同检测模式的检测时序进行叠加;同一检测模式的检测时序的叠加段和不同检测模式的检测时序的叠加段不相同。本申请的样本检测设备可使得同一检测模式的检测时序的叠加段和不同检测模式的检测时序的叠加段在检测时序中不会互相冲突,以保证不同检测模式的检测时序的叠加稳定性和可靠性,进而提高样本检测设备的检测速度。