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一种负载锁定室及半导体设备
发明专利未知
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§ Ⅰ
卷宗概要
IPC 分类
H10P 72/00 (2026.01)F27D 15/02 (2006.01)
本发明公开了一种负载锁定室及半导体设备,该负载锁定室包括:所述负载锁定室包括:腔体,所述腔体堆叠设置有多个腔室,且每一所述腔室均可承载晶圆;升降组件,用于将所述晶圆放置在各所述腔室中或者从各所述腔室中取出;真空组件,分别与各所述腔室连接,用于对各所述腔室进行抽真空处理;回填组件,分别与各所述腔室连接,用于对各所述腔室进行大气回填处理;水冷组件,配置于各所述腔室中,用于对各所述腔室中的晶圆进行冷却处理。本发明通过堆叠布局划分出多组相互独立的密闭腔室,可以规避传统单层平铺式腔体的结构局限,如此可以有效消除多工艺腔配置下的产能瓶颈,大幅提升半导体薄膜设备整机工艺产能。