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芯片的SOC验证方法、装置及验证平台
发明专利未知
10权利要求 · 4 独立
§ Ⅰ
卷宗概要
IPC 分类
G06F 30/3308 (2020.01)G06F 115/02 (2020.01)
本申请提供一种芯片的SOC验证方法、装置及验证平台,涉及芯片验证技术领域。该方法包括:根据接收的验证启动指令,确定该待测芯片的目标功能模块和目标测试用例;通过预设的通用公共文件列表和该目标功能模块对应的专用文件列表,构建与目标功能模块对应的目标模块验证环境;专用文件列表是基于用户修改得到的列表。根据目标测试用例生成测试激励,通过目标模块验证环境将测试激励发送至目标功能模块,并采集目标功能模块返回的接口响应数据。基于接口响应数据,生成验证报告。该方法用以达到降低芯片验证过程中多人并行开发导致的冲突可能性的效果。
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