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微针贴瑕疵检测模型构建方法及系统

发明专利未知
9权利要求 · 2 独立
§ Ⅰ

卷宗概要

发明人

曾金穗; 杨周举; 邱梓涵

申请日

Sep 21, 2026

公开日

Oct 27, 2026

IPC 分类

G06T 7/00 (2017.01)G06T 7/13 (2017.01)G06T 7/41 (2017.01)G06V 10/54 (2022.01)G06V 10/44 (2022.01)G06V 10/764 (2022.01)G06V 10/82 (2022.01)G06N 3/0464 (2023.01)G06N 3/084 (2023.01)

本发明提供一种微针贴瑕疵检测模型构建方法及系统,涉及微针贴瑕疵检测技术领域,本发明通过获取原始图像矩阵与真实瑕疵标签矩阵,提取局部对比度矩阵结合双曲正切函数构建增强逻辑,生成增强图像矩阵;利用双分支卷积网络提取断裂边缘场景特征与光学纹理场景特征,生成边缘特征矩阵与纹理特征矩阵;计算边缘特征矩阵与纹理特征矩阵间的空间重叠度及距离分布相似性以生成解耦损失值;以边缘特征矩阵为幅度基底、纹理特征矩阵为相位偏置进行交叉调制计算输出缺陷融合特征矩阵;计算逐像素误差矩阵获取分类损失,与解耦损失值按预设权重叠加计算总损失值并反向传播,从而实现待测微针贴图像的制造瑕疵类别及空间定位边界结果的精准输出。

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