天津伟测半导体科技有限公司

本申请公开了一种基于FPGA的DRAM功能测试系统及方法，涉及DRAM测试技术领域，解决了现有技术中DRAM功能测试成本高以及测试效率受限的问题，该系统包括ATE以及通过通信接口与其通信连接的FPGA芯片，ATE用于向FPGA芯片下发测试指令、配置参数以及启动测试流程，并接收FPGA芯片回传的测试结果数据，FPGA芯片用于生成针对DRAM的读写时序与激励信号并执行相应的功能测试算法以及将DRAM的输出响应数据格式化为数据流，大幅降低系统成本，提高了测试效率，能够快速适配不同类型的DRAM和不同的测试需求，可通过增加FPGA芯片数量来线性提升测试能力，能够同时适用于晶圆级测试和成品测试。