№ CN122922873A发明专利
未知一种综合孔径测向方法、装置、设备及介质
本发明属于微波辐射测量技术领域,提供一种综合孔径测向方法、装置、设备及介质,用于提升综合孔径阵列测向精度和测向实时性。基于经过数据预处理的多路同步复基带信号,获取UV平面采样集合后,构建满足预设约束条件的初始种群,基于初始种群和UV平面采样集合,通过差分进化算法进行迭代计算,得到用于指示辐射源来波方向的目标个体。如此,本申请通过自适应动态调整的变异与交叉算子,进行差分进化快速全局搜索空间谱峰最优值,提升了测向精度与实时性。
❖中国电子科技集团公司第二十九研究所张琪; 张栩琪; 廖骥; 余银; 鲁金; 董自通; 刘永旭; 周彬Oct 16, 2026§ 4/10 权利要求G01S 3/12 (2006.01), G01S 3/02 (2006.01)7