№ CN122984067A发明专利
未知辐射检查系统
本公开涉及一种辐射检查系统。辐射检查系统包括透射式射线束发射装置和至少一个散射式射线束发射装置。透射式射线束发射装置发射用于对被检测物体进行透射式扫描的扇形射线束,散射式射线束发射装置发射用于对被检测物体的进行散射式扫描的飞点射线束,其中,透射式扫描速度至少是散射式扫描速度的二倍。由此,可确保两类成像的采样频率与分辨率需求匹配。
❖中泰元科股份有限公司高星宇; 于伯华; 王献勇; 郭近贤; 白书亮; 冯志涛Oct 27, 2026§ 1/10 权利要求G01V 5/22 (2024.01), G01V 5/222 (2024.01), G01N 23/04 (2018.01) +1