一种电子芯片分选设备

本发明涉及芯片分选技术领域，并公开了一种电子芯片分选设备，包括底座以及固定安装在底座顶面一侧的震动上料盘，底座的顶面固定安装有与震动上料盘出料端对应的支架，支架的顶端固定安装有输送带。本发明通过搭配两组补光灯与视觉检测仪，突破了传统设备仅能检测芯片单面的局限，在电子芯片随输送带移动过程中，先完成第一面的尺寸、外观缺陷检测，再通过翻面板、顶板等结构协作实现芯片翻面，随后对第二面进行同等标准的检测，可全面识别芯片正反两面可能存在的崩边、划痕、胶体溢料等缺陷，有效避免因背面隐藏缺陷未检出导致的后续焊接不良或终端设备故障，提升了芯片检测的完整性与准确性，为产品质量提供双重保障。