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一种导磁材料的单探头测厚方法及装置

发明专利有效
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10权利要求 · 4 独立
§ Ⅰ

卷宗概要

发明人

张俊; 尹国华

IPC 分类

G01B 7/06 (2006.01)

本发明实施例提供一种导磁材料的单探头测厚方法及装置,该方法包括:获取单探头在空载状态下的第一感应电流及接触导磁材料时的第二感应电流,其中单探头包括铁芯以及绕制在铁芯上的线圈;通过基于电压比较的电流‑时间转换方法,将所述第一感应电流和第二感应电流分别转换为第一时间参数和第二时间参数;根据所述时间参数及预先建立的时间参数与厚度映射关系,计算得到导磁材料的厚度值。本发明实现了对导磁材料厚度的自动化测量,无需人工参与,有效降低了人力成本,提升了自动化产线的效率与检测精准度,解决了传统单探头金属双张检测器仅能判别单双张而无法测量具体厚度的问题。