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基于多点测量的大型箱体尺寸测量方法及系统

发明专利有效
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§ Ⅰ

卷宗概要

发明人

请求不公布姓名

IPC 分类

G01B 21/00 (2006.01)G01B 21/02 (2006.01)G01B 21/08 (2006.01)

本申请公开了一种基于多点测量的大型箱体尺寸测量方法及系统,涉及箱体尺寸测量技术领域,所述方法包括响应于测量指令,控制所述多组测量机构进行自适应对位;响应于自适应对位完成,控制所述多组测量机构同时对所述待测箱体进行尺寸测量,得到每种尺寸参数的多点测量数据。本申请具有提高测量效率的同时确保测量精度的效果。