芯片散热器缺陷检测方法、装置、设备及存储介质

本发明涉及芯片散热器缺陷检测技术领域，公开了一种芯片散热器缺陷检测方法、装置、设备及存储介质，通过接收包含缺陷检测时段和检测批次信息的芯片散热器检测任务，查询匹配的图像传感器组和边缘计算设备，根据待检测批次的类型特征与缺陷检测要求，形成检测需求信息，结合边缘计算设备的负荷上限与传感器组批次映射关系，求解出检测策略并以此指导执行图像采集、传输与分析动作。由此，本发明通过构建基于边缘计算体系的芯片散热器缺陷检测系统，依赖图像传感器组与边缘计算设备之间临时通信链路的建立，灵活分配调度检测图像采集资源与检测数据分析资源，动态适应不同批次散热器的检测需求，解决检测间隔不均、资源分配不合理问题。