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测定准确度改善
发明专利有效
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§ Ⅰ
卷宗概要
发明人
斯蒂芬·Y·周; 丁惟; 周芜; 田军; 张越成; 吴明权; 李星
IPC 分类
G01N 33/68 (2006.01)G01N 21/78 (2006.01)G01N 21/00 (2006.01)G01N 33/53 (2006.01)G06T 7/00 (2017.01)G06V 10/34 (2022.01)G06V 10/44 (2022.01)G06V 10/764 (2022.01)G06V 10/82 (2022.01)G06V 20/69 (2022.01)G16H 30/40 (2018.01)G16H 40/60 (2018.01)
本发明的一个方面是提供改善测定准确度的系统和方法，其包含各自具有随机误差的至少一个或多个参数。