基于flash特性高效筛选存储块的方法、装置、介质及设备

本发明公开了一种基于flash特性高效筛选存储块的方法、装置、介质及设备，所述方法包括：检查存储块中的每一个Coreword的第一错误比特数；在M轮的读取校验中任一所述存储块的Coreword的第一错误比特数大于第一预设阈值时，将所述存储块标记为弱块；检查所述弱块中的每一个Coreword的第二错误比特数，并基于所述第二错误比特数得到N轮的读取校验操作中每一个Coreword的平均错误比特数；在所述平均错误比特数大于所述第二预设阈值时，将所述弱块标记为坏块。本发明先通过多轮筛选从存储块中标记出弱块，再在标记的所有弱块中进一步筛选出坏块，极大的提升了筛选效率，可以最大限度地确保Flash芯片中，所有不可靠的存储单元都被识别和管理起来，提升了产品的可靠性。