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一种谷物研磨成分均匀性数据检测方法及系统
发明专利有效
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§ Ⅰ
卷宗概要
发明人
周殿波; 周其润; 周其璋
IPC 分类
G01N 33/02 (2006.01)B02C 23/00 (2006.01)
本发明公开一种谷物研磨成分均匀性数据检测方法及系统,涉及谷物研磨检测领域,包括:在待检测谷物研磨物料的空间区域内采集多点成分含量数据,通过梯度矢量场映射与旋度运算识别不均匀核心位置,追踪不同时间节点的坐标轨迹与涡度强度序列识别持续性不均匀核心位置,基于空间距离与涡度强度的耦合关系构建持续性不均匀核心位置组,最终生成包含空间边界信息与处理强度的研磨调控指令,实现了谷物研磨过程中成分均匀性的精确检测与区域划分。