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半导体封装件及其形成方法
发明专利有效
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§ Ⅰ
卷宗概要
发明人
汤学文; 庄文献; 刘献文
IPC 分类
G02F 1/025 (2006.01)G02F 1/01 (2006.01)
在实施例中,方法包括:形成集成电路管芯,形成集成电路管芯包括:在衬底的前侧上方形成互连结构,互连结构包括光子组件和加热器,衬底包括半导体衬底上方的第一介电层;去除半导体衬底以暴露第一介电层的背侧;在第一介电层的背侧上方形成第二介电层;在第二介电层上方形成再分布结构,再分布结构延伸穿过第一介电层和第二介电层以电连接至互连结构;以及在再分布结构上方形成电连接件;将封装衬底附接至电连接件;以及将电子管芯附接在互连结构上方和封装衬底的前侧上方。本申请的实施例还涉及半导体封装件及其形成方法。