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确定X射线摄影的后处理参数的方法、装置、主机和介质
发明专利有效
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17权利要求 · 5 独立
§ Ⅰ
卷宗概要
发明人
邹赟哲; 李采斐; 王露
IPC 分类
G06T 12/00 (2026.01)G06V 10/774 (2022.01)G06V 10/764 (2022.01)G06V 10/82 (2022.01)G06N 3/0455 (2023.01)G06N 3/08 (2023.01)
本发明实施方式公开了确定X射线摄影的后处理参数的方法、装置、主机和介质。方法包括:获取X射线摄影的基准图像;将所述基准图像输入已训练的后处理参数确定模型,所述后处理参数确定模型适于基于所述基准图像确定第一向量以及基于所述第一向量生成后处理参数,其中所述第一向量表征所述基准图像的风格特征。无需手动设置后处理参数,基于基准图像的风格特征可以自动确定出后处理参数。还提出基于具有特定结构的训练网络模型的训练方法,能够基于多个维度的损失考虑,综合训练出精准的后处理参数确定模型。针对基准图像与训练用原始图像和训练用后处理图像源自不同X射线摄影系统的情形,对后处理参数执行优化,提高了后处理参数的准确度。