返回搜索
档案
晶体管器件及其形成方法
发明专利有效
9浏览
10权利要求 · 3 独立
§ Ⅰ
卷宗概要
发明人
林志昌; 邱宗凯; 江育贤; 余建霖; 杨固峰; 廖思雅
IPC 分类
H10D 84/85 (2025.01)H10D 84/01 (2025.01)
提供了沟道隔离结构及其形成方法。一种器件包括:多层堆叠件,包括:第一多个纳米结构;第二多个纳米结构,位于第一多个纳米结构上方;以及第一沟道隔离结构。该器件还包括:第一源极/漏极区,位于第一多个纳米结构的相对端上;第二源极/漏极区,位于第一源极/漏极区上方,第二源极/漏极区位于第二多个纳米结构的相对端上;第一栅极结构,围绕第一多个纳米结构;以及第二栅极结构,围绕第二多个纳米结构。第一栅极结构接触第一沟道隔离结构的第一横向表面。本申请的实施例公开一种晶体管器件及其形成方法。