聚合物波导损耗的测试工装及测试方法

本发明公开了一种聚合物波导损耗的测试工装及测试方法。所述聚合物波导损耗的测试工装包括：至少一个探针和至少一个辐射结构，所述辐射结构包括辐射体和馈电部，所述辐射体与所述馈电部连接；所述探针的第一端用于与所述馈电部接触，所述辐射体用于与所述聚合物波导耦接；测试设备，与所述探针的第二端连接，用于测试所述聚合物波导的损耗。本发明能够提高对聚合物波导损耗测试的准确性以及频率覆盖的全面性。