用于集成电路中过零点事件的仿真优化方法及装置

本发明公开了一种用于集成电路中过零点事件的仿真优化方法及装置，接收包含由硬件描述语言定义的Cross或Above事件的输入信号，存储输入信号的值和当前时刻；将当前时刻与上一时刻仿真点进行比较，如果过零点，则基于当前时刻与历史若干个过零点仿真点数据预测下一个时间点；根据所述预测时间点，在仿真时间轴上插入一个仿真计算点。用于模拟和数模混合集成电路的仿真验证，特别涉及仿真工具对VerilogAMS硬件描述语言中的cross/above事件的性能优化。