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一种GaN器件AC仿真方法、装置、设备以及存储介质

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§ Ⅰ

卷宗概要

发明人

王羽彤; 王煜霄; 徐金阳; 王兆卿

IPC 分类

G06F 30/36 (2020.01)G06F 30/27 (2020.01)

本发明公开了一种GaN器件AC仿真方法、装置、设备以及存储介质,所述方法包括:根据目标GaN器件的栅极仿真电压、漏极仿真电压和源极仿真电压,以及转换系数和训练好的电荷确定模型,确定第一等效电容、第二等效电容和第三等效电容;根据栅极仿真电压、漏极仿真电压、源极仿真电压、第一等效电容、第二等效电容和第三等效电容,确定目标GaN器件的目标栅极电流、目标漏极电流和目标源极电流;根据目标栅极电流、目标漏极电流和目标源极电流,对目标GaN器件对应的原始器件模型进行更新,得到目标器件模型,并根据目标器件模型,基于预设的测试电路,对目标GaN器件进行AC仿真。