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基于亚像素特征的工件缺陷检测方法及检测系统

发明专利有效
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8权利要求 · 2 独立
§ Ⅰ

卷宗概要

发明人

申兴琭; 赵春英; 周婷; 吴荣; 吴子怡

IPC 分类

G06T 7/00 (2017.01)G06V 10/25 (2022.01)G06V 10/44 (2022.01)G06V 10/75 (2022.01)G06V 10/774 (2022.01)G06V 10/74 (2022.01)

本发明公开了一种基于亚像素特征的工件缺陷检测方法及检测系统,涉及缺陷检测技术领域,包括:利用机器视觉设备采集工件图像,获取工件的边缘轮廓集合,通过划分为不同类别的边缘线;将历史工件缺陷数据按照不同边缘线类别进行数据集划分,对各历史工件缺陷数据集中缺陷样本进行图像分割及形态学处理,获取缺陷区域进行亚像素级边缘提取,分析缺陷边缘中的标志性缺陷亚像素特征;将待检测工件图像经过预处理后,选取感兴趣区域进行亚像素级边缘提取,计算感兴趣区域的亚像素级边缘与所述标志性缺陷亚像素特征的相似度;根据相似度判定工件的缺陷信息。本发明通过亚像素级边缘检测精确定位边缘,提高检测精度,实现对工件质量的高精度快速检测。